BGA152/132一拖二双面弹测试夹具SATA接口测试治具SM2246EN

BGA152翻盖双面弹一拖二测试座

BGA152翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍 铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据

适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0

特别说明：暂时只能支持TLC等级的FLASH,支持4CE以下的芯片

产品特点

1. 可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132 /TSOP48/LGA等转DIP48的测试座都可以随意更换

2. 每款测试座都转成了由我公司定义的行业通用标准48pin，不仅可以用在固态硬盘测试架上，如果有一些不能用于SSD等级的芯片还可以用我们的测试座插在U盘方案的一拖四测试架上面测试，为客户减少测试架成本。

SM2246EN主控

规格尺寸

型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

脚位:88

适配芯片尺寸:12*18mm 或 14*18mm 可更换限位框，买前告知芯片尺寸。

实物图